Sigmadyne SigFit 官方最新版 v2020R1e

更新时间：2022-06-10 14:59:25

软件介绍

Sigmadyne SigFit提供热耦合分析，为用户设计工业设备，分析电力，分析电磁提供帮助，您可以在软件建立仿真环境，可以为多种实体建立分析方案，可以添加不同的设备到软件分析热力，可以在软件编辑实体，可以在图表查看分析结果，为用户提供更丰富的光机热耦合分析方案，这里小编推荐的是2020R1e官方最新版，新版增强输出以改善，对NASTRAN模态阻尼矩阵文件的增强是包含了广义质量和矩阵，以便Sigfit可以验证广义质量是统一的（在SigFit中要求），并且广义对应于模态扰动文件中指定的特征值，特征向量对MSCNASTRAN_Support文件夹中提供的DMAP的所有版本进行了这些增强！

Sigmadyne SigFit新功能

1、通过光学分析波前误差线光学模型的改进

支持与代码V（2020R1）一起使用

当前的功能允许用户通过链接到光学分析模型或先前生成的线光学模型文件来计算波前误差，现已扩展为包括与Code V版本10.6或更高版本一起使用。均支持通过法向或轴向下垂变形方向表征表面误差。表面类型目前仅限于没有非球面项的圆锥表面。支持链接到.len或.seq文件。有关更多详细，请参见SigFit参考手册的5.20.3节或教程示例3。

2、支持场和波长（2020R1）

当前允许用户通过链接到光学分析模型或先前生成的线光学模型文件来计算波前误差的功能现在支持多个场和波长。场和波长编号在SigFit中指定，如下所示。线光学模型将使用到场和波长的每种组合的光学分析链接生成，并将用于生成每种模型的波前。

3、支持学生的小孔和障碍物（2020R1）

通过将网格，孔径和障碍物特征与表面允许的特征相结合，增加了在光空间中施加孔径和障碍物的支持。用户指定要应用于计算波前的孔的网格。通过评估波前的多项式表示来填充此网格。可以定义以标准化孔坐标表示的光圈或障碍物。

4、支持样本量

现在可以指定线采样密度。默认值为128x128。

5、添加了输出选项以将Wavefnt错误结果写入CSV文件

波前分析的结果已经写入.fit文件。多项式拟合和主动控制分析的结果也可以写入到CSV文件中，并在输出模块的“系统级结果文件”部分中进行选择。

6、支持Code V扩展的Zernike边缘，包括偏移光圈

在Code V版本11.3中，引入了一种新的表面类型，称为扩展边缘Zernike。除此处未讨论的其他功能外，该表面还允许基本圆锥曲线与Zernike多项式处方之间有偏移。现在，这使用户可以在SigFit分析中使用轴向下垂变形，将结果发送到具有偏移孔径的Code V曲面。尽管由于缺少重要术语而通常不建议使用常规Fnge Zernike集来表示表面误差，但此Code V Extended Fnge Zernike表面中包含的术语通常对于表示大多数变形非常有用，因为表面配方包含六面体（cos（6θ ）和sin（6θ））项。另外，使用残差插值可以增加缺少期望的表面误差的任何多项式拟合。

7、用户定义的标头（2020R1）

可以通过VSigFit的“解决方案”模块中的简单文本编辑器来指定用户定义的标头。用户只能使用50行，每行80列。如果使用了80列以上，则编辑器将自动换行。标题文本将被打印在SigFit写入的几乎每个输出文件上（在该文件的格式规范允许的情况下），并使用宏文件所需的注释字符。

8、增加了GRD INT格式（2020R1）的精度增强内插文件

写入GRD INT文件的精度受文件格式的有符号2字节整数的精度限制。这导致大约四个十进制有效数字，可能并不适合所有应用程序。现在，生成GRD INT文件将导致每个插值产生两个文件，其中第二个GRD INT文件表示原始数据减去第一个GRD INT文件中表示的数据。这将导致大约八位十进制数字的精度。第二个GRD INT文件将使用x2.int后缀。调用INT文件的相应宏文件将根据需要使用唯一标签将两个GRD INT文件调用到同一表面上。启用该功能不需要用户采取任何措施。

9、 VSigFit对附加孔径和遮挡定义的支持（2020R1）

附加的孔径和障碍物定义已在SigFit中发布了几个版本，但VSigFit到目前为止尚不支持。附加的孔和障碍物允许用户指定和定位其他形状以及布尔值，以及如何使用它们。

10、导入光圈偏移

现在可以从Code V和Zemax Optic Studio模型中导入指定的孔径偏移。这些偏移量将被导入到曲面偏移量属中，以对应的SigFit曲面定义。孔径定义本身不会被导入。

11、使用全局坐标提高了VSigFit导入代码V曲面的精度

现在，可以更精确地表示在Code V模型中的全局坐标中定义并导入VSigFit的曲面的曲面顶点坐标系定义的生成。此改进消除了在SigFit分析过程中会在其上添加干扰的名义表面位置上的微小但有时值得注意的误差。使用局部坐标在代码V中表示的曲面不受影响。

12、支持Code V图像表面厚度

从Code V模型导入表面定义时，以前的版本中忽略了图像表面上的厚度，但现在将其用于定位图像表面。

2.8在VSigFit中以微米表示的Sellmeier dn / dT属中的λTK规范

SigFit有两个条目来描述Sellmeier dn / dT属：SELLM和SELLM1。 SELLM以微米表示λTK，

SELLM1以纳米表示λTK。对于最新版本，VSigFit偏爱SELLM1条目，并提示用户输入纳米级的λTK。但是，为了避免混淆，VSigFit现在将要求以微米为单位指定λTK，如下所示，因为在玻璃目录中通常以微米为单位给出λTK。

对于用户而言，非常重要的一点是要了解VSigFit始终使用与VSigFit的Sellmeier定义中显示的所请求单位相对应的条目来存储λTK。因此，使用SELLM1定义的先前分析定义将正确导入并转换为SELLM条目，而无需任何用户作。